測微計控制樣品的設置

　　精確軸設計保證樣品垂直于研磨盤(pán)，使之同時(shí)旋轉

　　數字千分表顯示樣品行程，增量1微米。(實(shí)時(shí))

　　雙軸測微計控制樣品角坐標設置(斜度和擺度)，10°幅度， 0.02° 增量。

　　6倍速樣品自動(dòng)擺動(dòng)。

　　8倍速樣品自動(dòng)旋轉。

　　樣品調整范圍：0-600克(100克增量)

　　數字記時(shí)器與轉速計

　　凸輪鎖緊鉗無(wú)需其他輔助工具，方便用戶(hù)重新設置工作夾具。

　　符合CE標準

　　美國設計并制造

　　半導體元器件切割研磨機用于元器件研磨去層失效分析芯片反向位置確認等等