簡(jiǎn)單介紹
X射線(xiàn)熒光分析儀EDX-GP的詳細介紹
EDX-GP是最適合用于RoHS/ELV/無(wú)鹵素法規限制的有害元素篩選分析的X射線(xiàn)熒光分析裝置。
第一次使用，也能輕松操作，操作簡(jiǎn)便且以更高的精度進(jìn)行微量分析，達到最高靈敏度與最佳分辨率的完美結合。
標準配置RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析所需的所有必要功能，用戶(hù)無(wú)需購買(mǎi)特殊選購件，使可以獲得最佳RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析系統.
測試步驟：
操作簡(jiǎn)便，一個(gè)指令即可開(kāi)始全自動(dòng)測定。
測定條件的選擇過(guò)去一直依賴(lài)操作者的判斷，現在改由裝置自動(dòng)判斷，即使初學(xué)者也可簡(jiǎn)便·高精度地測定。
1st Step
放置樣品
●將樣品放在分析位置，利用樣品圖像觀(guān)察裝置確認分析位置。
●選擇分析區域。
●關(guān)閉樣品室。
2nd Step
選擇分析條件／輸入樣品名稱(chēng)
●一個(gè)畫(huà)面中可以同時(shí)顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱(chēng)。
●點(diǎn)擊開(kāi)始。
3rd Step
顯示分析結果
●測定結束后，畫(huà)面上將清楚顯示5種元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（測定偏差）］。
●點(diǎn)擊即可顯示［結果列表］或［創(chuàng )建報告書(shū)］。
只需1次點(diǎn)擊，便可根據預先登錄的分析條件，
自動(dòng)執行從測定到結果的一系列操作。
■ 校準曲線(xiàn)自動(dòng)選擇功能
不含有害元素時(shí)，測定過(guò)程中能夠判定結果時(shí)，即自動(dòng)終止測定，縮短分析時(shí)間。
■ 省時(shí)功能
不含有害元素時(shí)
不含有害元素時(shí)，測定過(guò)程中能夠判定結果時(shí)，即自動(dòng)終止測定，縮短分析時(shí)間。
■ 適用省時(shí)功能的縮短時(shí)間示例
含量低于檢出下限值時(shí)，判斷不含有，測定自動(dòng)結束。上述樣品中Pb、Cd的含量均低于檢出下限，與設定的200秒（=100秒＋100秒）分析時(shí)間相比，僅用了50秒（=25秒＋25秒）即結束分析，大幅度節約了時(shí)間。
有害元素含量高時(shí)
由設定的目標管理精度自動(dòng)決定測定時(shí)間。
在測定精度達到管理值時(shí)結束測定。
■ 適用省時(shí)功能的縮短時(shí)間示例
測定高濃度元素時(shí)，在比設定的測定時(shí)間更短的時(shí)間內即可獲得高強度，而且誤差變小，由此可以大幅縮短時(shí)間。上述樣品中Pb：7600ppm、Cd：52ppm,設定的分析時(shí)間為200秒（=100秒＋100秒），實(shí)際僅用了40秒（=15秒＋25秒）即結束分析，大幅度節約了時(shí)間。
EDX-GP標準配備了RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析所需的所有必要功能，用戶(hù)無(wú)需購買(mǎi)特殊選購件，就可以獲得最佳RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析系統。
標準配置改變照射直徑的準直器＆樣品圖像觀(guān)察組件
測定異物或者測定包含多個(gè)部位的樣品時(shí)，通過(guò)樣品圖像觀(guān)察組件在觀(guān)察樣品的同時(shí)，可以簡(jiǎn)單的設定分析位置。測定小樣品或樣品中特定位置時(shí)，可以使用準直器，更改X射線(xiàn)照射區域。
（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）
10mmφ圖像（塑膠）
3mmφ（金屬）
形狀校正功能
即使含量相同的樣品，在形狀和厚度不同時(shí)，X射線(xiàn)強度將發(fā)生變化，得到的定量值也會(huì )受到影響，EDX-GP通過(guò)使用BG內標法*，可以排除形狀和厚度的影響，取得高精度結果。
※BG內標法
通過(guò)散射X射線(xiàn)強度使各元素的X射線(xiàn)熒光強度標準化的一種校正方法。
測定結果列表管理
創(chuàng )建列表功能
已保存數據可以用Excel形式列表顯示
超大樣品室可以對應各種樣品形態(tài)及大小。
采用超大樣品室：最大可以放置370mm長(cháng)×320mm寬×155mm高的大型樣品，令緊湊型機身望塵莫及。
