簡(jiǎn)單介紹
導電粒子觀(guān)察顯微鏡主要用于半導體硅晶片（Silicon Wafer）檢測、液晶屏（LCD）檢測、導電粒子（Conductive Particles）檢查，實(shí)驗室材料分析及其他精密工程檢測領(lǐng)域研究，可對樣品進(jìn)行明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉及偏光觀(guān)察。
導電粒子觀(guān)察顯微鏡性能特點(diǎn)：
★ 系統采用無(wú)限遠平場(chǎng)消色差、長(cháng)工作距、明暗場(chǎng)兩用物鏡，成像清晰、像面平坦
★ 配備反射式柯拉照明系統，為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明
★ 正像三通觀(guān)察筒，25°傾斜，極大的提高了觀(guān)察的舒適性與操作的適應性
★ 配備了6"帶離合器機械平臺，行程158*158mm，可快速移動(dòng)
★ 最佳人機學(xué)設計，高剛性鏡臂，"Y"型底座，調焦機構采用前置式操作控制，粗微調同軸
★ 光源采用寬電壓數字調光技術(shù)，具有光強設定與復位功能
★ 可選配攝影攝像裝置、簡(jiǎn)易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等附件，拓展應用領(lǐng)域
導電粒子顯微鏡主要技術(shù)參數：
光學(xué)系統:無(wú)限遠色差校正光學(xué)系統
物鏡
無(wú)限遠平場(chǎng)消色差，長(cháng)工作距金相物鏡（明暗場(chǎng)兩用），5X、10X、20X、50X、80X
目鏡:高眼點(diǎn)平場(chǎng)目鏡，PL10X，線(xiàn)視場(chǎng)φ22mm
高眼點(diǎn)平場(chǎng)目鏡，PL15X，線(xiàn)視場(chǎng)φ16mm
觀(guān)察筒:正像，鉸鏈式三目，25°傾斜，分光比：雙目100%，三目100%
照明系統:反射式柯拉照明，明暗場(chǎng)切換，帶簡(jiǎn)易偏光接口，12V/100W鹵素燈，預置中心
采用數字調光，具有光強設定與復位功能，帶針孔光欄
調焦機構:粗微調同軸，帶粗調上限位、松緊調節裝置和隨機限位裝置
粗調行程：33mm（焦后1mm），微調精度：0.001mm
最大樣品高度：32mm
物鏡轉換器:內定位、內傾式、五孔、明暗場(chǎng)兩用物鏡轉換器
載物臺:6英寸矩形，機械移動(dòng)平臺200mmX200mm，移動(dòng)行程：158mmX158mm
低位同軸調節，帶離合器控制手柄，可快速移動(dòng)
機架:全新的人機工程學(xué)設計，高剛性鏡臂，"Y"型底座，前置式操作控制
選購附件:攝影攝像裝置、簡(jiǎn)易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等
觀(guān)察筒:正像觀(guān)察筒，物的移動(dòng)與像的移動(dòng)方向一致，不會(huì )出現使用倒像觀(guān)察筒時(shí)物像方向相反而產(chǎn)生的錯覺(jué)。避免操作失誤，提高工作效率。
1、鉸鏈式觀(guān)察筒，25°傾斜，視度調節（±5）
2、分光比：雙目100%，三目100%
3、瞳距調節（54-75mm），無(wú)需筒長(cháng)補償
粗微動(dòng)同軸調焦機構:
1、采用新型導軌機構，粗微動(dòng)同軸
2、低手位設計，操作舒適
3、帶有粗調松緊調節裝置和隨機限位裝置
4、調焦行程：33mm
5、調焦精度：0.001mm
6、最大樣品高度：32mm
機械移動(dòng)載物臺:
1、雙層機械移動(dòng)式，帶離合器控制手柄，可快速移動(dòng)
2、特殊材料制造、特殊工藝處理，耐磨耐腐蝕
3、低手位同軸調節手柄，操作更加舒適
4、6英寸矩形，移動(dòng)行程：158mmX158mm
離合器控制手柄--通過(guò)離合控制，可以脫開(kāi)手輪傳動(dòng)從而實(shí)現快速無(wú)阻移動(dòng)，提高大面積樣品檢測時(shí)的移動(dòng)效率
照明系統:
1、12V/100W鹵素燈，預置中心
2、90V-240V寬電壓，旋鈕式數字調光
3、具有光強設定與復位功能，用于特定觀(guān)察或拍攝照片
4、反射式柯拉照明，帶視場(chǎng)光欄與孔徑光欄，均可調中心
5、推拉式針孔光欄，主要用于50X以上的物鏡，觀(guān)察高景深高對比度
物鏡轉換器:
1、內定位內傾式、五孔明暗場(chǎng)兩用物鏡轉換器
2、物鏡的安裝和操作更為便利
3、高精度制造，保證系統齊焦
偏光裝置:
1、選擇簡(jiǎn)易偏光附件可以實(shí)現偏光觀(guān)察
2、S-PO起偏鏡，S-AN檢偏鏡
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